|
资产编号 |
NERCN-TC-006 |
 |
|
仪器名称 |
|
|
英文名称 |
|
|
规格/型号
|
*/S-4800 |
|
生产厂商 |
日立 |
|
国别 |
日本 |
|
所属单位 |
分析测试中心>>2-106 |
放置地点 |
2-106(2-106) |
|
负责人 |
沈蔚 联系电话：34291286-8159 邮箱：test@qq.com
罗超 邮箱：暂无
沈蔚 联系电话：34291286-8159 邮箱：test@qq.com
郁悦 邮箱：暂无
方立文 邮箱：暂无
陈涌钿 邮箱：暂无 |
|
使用日期 |
2010/3/1 |
电子邮箱 |
test@qq.com |
|
性能指标 |
1. 二次电子分辨率：1.0nm (15 kV)； 1.4nm(1 kV, WD = 1.5mm, 减速模式)；2.0nm (1 kV, WD = 1.5mm, 普通模式）
2. 放大倍数：低倍模式：×20~ ×2,000，高倍模式：×30~ ×800,000
3. 电子枪：冷阴极场发射电子源
4. 加速电压：0.5~30kV
5. 样品台：X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5~+30° R:360°
6. 信号选择：SE（二次电子）信号，X射线信号
|
|
主要应用 |
1.材料表面形貌观察：显微结构、尺寸及相互作用、相组成及相分布；
2.材料成分分析：元素定性分析、定量分析、线分析、面分析；
3.可以检测的元素范围B5～U92。
|
|
样品要求 |
样品不得具有磁性，并且不易被磁化。样品中不得含有水分，高度小于15mm，直径小于30mm。多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理。样品能与样品台牢固粘结，具有导电性，若样品不导电，需要进行镀铂导电膜的处理（本中心也提供镀膜服务，但需要另行收费）。同一次装入电镜的样品高度差不要超过1.5mm。
|
|
仪器说明 |
冷场发射扫描电镜S-4800能实现对各种固态样品表面形貌的观察，获得表面形貌的二次电子像；能对材料学、化学、生物科学等领域的物质表面形貌、尺寸及成分进行分析。
|
| 学习资料 |
|